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ict测试

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应用:小电阻?如? 0?.1&‖Omega;~10?⌒&O?mega;,小电°感,小电容量测时会受到 cable 和探针?接触不良的影响,而造成测?试不稳,而√四线量测∑就可以解决这∫些问题∷。
?由二×线式£改樗南呤搅坎夥ǖ男薷乃得﹢魅缦拢
?㎏ a.? relay≦ board需¤??做以下修改,JA, JB, ∮J*C?℡ 跳线拿掉, 使之开路OPEN。
 ?b.> JA㏑0№,? JA?1,≒ @JA?2, JA3, ?JB?0, JB1, JB?2, JB3, JG0?,? JoG∨1,? JG2, JG3

?c. 此时R∪elay boa?rd只剩下3mol2点?, 因榈诙连接器已被?当≯成seμnse使用?。
 d.∞ ≡程式方面须做如下设定:

e. 在×此设定下,电阻值最?小可?量测到0.01&O‰?mega;。
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宽频而准确的¬?相位分?离量测﹣法
对于在RC或R℉L并£联电路中的??R.3L.C.∩ ♂可用相位测量法,分别量出其零件值,由于信号?源频率宽广(1?00mHz到?¥1MHz﹤),因此可以侦 ?测的范?围优于一般?的ICT,-像下图线路中?的零=件都可以准确量测。

三端点、四⊿端点量测
可对三端点的零件∥如 TRANSI㎞?STO?R,DIGITAL TRANSI=STOR,FET,SC?±R∝等?。或四端%点零件如 ?PHOTO? COUPLER,做%正确的?测试?,如有反插或零件??损坏,必可测出。TRANSIST?O?R的&beta?;值也可量?测?。
 
电解电容极性测?试
以三端点法侦测铝?质电解电容极性¢反插,可测率1?00%;以测漏电流方式侦测电解电容极性反插,可测率极高?。

软件系统 
JET-300拥有超越一般<ICT的软体功能,无″论是?在测∈试前的?程序制作支持软+体,≌ 或是测试后的不良?信息?和数∷据分析,都有高?水平㏕的表≧现。在微软中文≠ml㈱窗口环境下执行的系统?程序,操作㎜容易,功⊕能强大。

最差零件(焊?点)排行榜?
≥?系ict测试统可打∟印出不良数最多的零件(前十名)和不良次数最多的焊∣点﹥( 前十点?)供厂∏商≤做品质控制㏄或?制§程改善的参考?。

测试?数据?统计的日报表?和月报表
图表上半的长条⊙图用以显示当?月′份﹢每?日累积OP$EN/SH♀ORT,零件不良率≮?及整个测试的可接受率。?图表的下半派图用以清楚明了地1显∵示当日各不良原因的百分比。

网络?㏒实*时监?控系统
如果?把多台÷IC3T连到内部网·络系统 ,则每一台I※CT的测试?统计数?据都可∴∽以在网络?上?的任何一台?计算¥机上显示,管理者℅可以很方便地随时?查?看生产线的状况。

网络错误讯息查询℃系统
只要把I∧CT/ 和检修站都连到内部网络系统, 则?在检修m站就可以?检◎视到不良板的所有错误讯息,包⊥括:打﹣印?机的㎎印出讯〒息?和错误图形?显示㎡。

待测板图形显示功能
可在待测板不良发生?时,明?白?显示?不良零件?或焊点的位置,亦?可在零件位置查询时显示零2件的位?≈置,此功能?可大?大缩短不良品检修的时间和程∶序调适的时间。如果厂?内有网络联机系统,则此图?形㎝亦可在维∠修站的?屏幕上显示出来。
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